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高低溫低氣壓試驗箱（定制）
簡要描述：高低溫低氣壓試設(shè)備名稱：高低溫低氣壓試驗箱（定制）型號：GLD1000-70W標(biāo)稱內(nèi)容積：可定制溫度范圍：-70℃～+150℃濕度范圍：工作：25%~98%RH壓力范圍：常壓～0.5kPa降溫時間：+20℃→ -65℃，0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化（常壓、空載）升溫時間：-70℃→150℃，0.5℃/min≤0.5℃/min 升溫速率線性變化（常壓、空載）降
所屬分類：低氣壓試驗箱
更新時間：2024-08-18
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
瀏覽次數(shù)：914
高低溫低氣壓試驗箱（定制）
高低溫低氣壓試驗箱（定制）
測試方法
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法， 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法，濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170. 10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法，高低溫低氣壓試驗設(shè)備
滿足試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T2423.2 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗
GB/T2423. 21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法
GB/T2423.25-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-AM：低溫-低氣壓綜合試驗
GB/T2423.26-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-BM：高溫-低氣壓綜合試驗
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地址：立新九頭村工業(yè)區(qū)
郵箱：astdod@sina.com
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